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140SDメモリカド測定OFF表示年月日回数時分秒電流レベルSPD劣化テスト雷レコーダOLR-1時計設定(秒押)セレクトUPDOWN回数リセット記録表示(秒押)入力端子TSPD劣化サージ電流SPD劣化出力端子1090(110)10004554(2)114本体φ19φ3714貫通型CTOLR-31P1326φ32φ54クランプ型CTOLR-31C取り扱い1.測定方法・サージ電流やSPD劣化接点動作を検知すると、電流レベルやSPD劣化接点動作とその検知時刻をSDメモリカードに記録し、接点出力(a接点)します。・テストボタンを押すと「TEST」と記録されます。2.記録表示表示します。・電源スイッチを「表示」にすると、時刻や記録回数を・記録表示ボタンを押すと、記録データを表示します。・時計設定ボタンを押すと時刻設定ができます。3.表示例2024年4月2日20時15分03秒にサージ電流レベル1000AとSPD劣化を検知した場合、下記の通りとなります。年月日回数2024/04/0220:15:031000*時分秒電流レベルSPD劣化199サージ検出器雷の侵入やSPDの状態を“見える化”へ特長1.接地線などに侵入したサージ電流レベルとその検知時刻を記録、表示SPD(避雷器)の効果検証とメンテナンスに役立ちます。2.データはSDメモリカードに記録テキストデータで記録するため、専用ソフトを使用せずに、パソコンで表示します。3.サージ電流検知時、SPD劣化検知時に接点を出力(a接点1秒間)4.RoHS規制物質対応(OLR-31Pのみ)OLR-31C雷レコーダOLR-31C,OLR-31POLR-31P外形寸法図500C:クランプ型CTP:貫通型CT形式OLR-31□特性表形適式応記録録媒録最大許容電流源電体記記数動性接点出力(a接点)CT付注2)取使境用作極環OLR-31COLR-31P太陽光システム専用電源用SPD(クラスⅠ、クラスⅡ、クラスⅢ)、電源用SPD(クラスⅠ、クラスⅡ、クラスⅢ)、制御電源回路用SPD、信号回線用SPD、電話回線用SPDなどの接地線・サージ電流レベル(8/20μs)100A,500A,1000Aとその時刻・SPD劣化接点動作(SPDと接続時)とその時刻25kA(8/20μsおよび10/350μs)単4形アルカリ乾電池4本(連続使用期間:約3年注1))SDメモリカード2GB(付属品)最大999件正・負(ただし判別しない)サージ電流検知時およびSPD劣化接点動作時クランプ型CT(内径:φ32)貫通型CT内径:φ19)DINレール屋内用使用温度範囲質量測定時:0℃〜+50℃(但し結露しないこと)表示時:5℃〜+50℃(但し結露しないこと)本体部:約450gCT部:約100g注3)本体部:約450gCT部:約30g注3)注1)使用温度やサージ検知頻度により変動します。注2)オプションとして、ネジ取付用金具(DIN-170)もご用意しております。注3)乾電池含む。入力端子CTSPD劣化サージ電流SPD劣化出力端子CT接点出力(サージ電流)接地接点出力(SPD劣化)付属品SDメモリカード(2GB)使用例SPD劣化接点出力端子(a接点)LLESPD
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